Тестер микросхем

Стенд измерительный FT-17HF-768 предназначен для параметрического, динамического и функционального контроля цифровых и цифро-аналоговых микросхем на частотах до 200 МГц.Стенд FT-17HF-768 представляет собой автоматизированную многоканальную аппаратуру для функционального и параметрического контроля, которая осуществляется путем подачи сигналов напряжения и тока на выводы тестируемой микросхемы и измерения выходных сигналов напряжения и тока, или сравнении выходных сигналов с заданными (ожидаемыми) сигналами.Основной аппаратной частью стенда являются универсальные каналы, каждый из которых включает в себя генератор тестовой последовательности, драйвер (источник напряжения), компаратор напряжения, активную нагрузку, источник-измеритель статических параметров.Кроме универсальных каналов, имеются дополнительные каналы источников-измерителей статических параметров с расширенными диапазонами напряжения и силы тока, и каналы измерительных источников питания.Объекты контроля и измерений:цифровые ИС произвольной логики (ПЛИС, микропроцессоры, микроконтроллеры, ИС стандартной логики и т.п.);запоминающие устройства (ОЗУ, ПЗУ различных типов);аналого-цифровые ИС (АЦП, ЦАП, системы на кристалле);RFID (радиочастотные метки, смарт-карты).Отличительные особенности:Стенд FT-17HF-768 имеет напольное исполнение. На передвижной платформе установлены стойка управления манипулятора, с помощью которого осуществляется перемещение измерительного блока.Наличие манипулятора позволяет использовать стенд совместно с технологическим оборудованием для автоматизации процесса тестированиясортировщики микросхем.Каналы размещаются на платах канальной электроники, каждая плата содержит 64 универсальных канала, 8 дополнительных каналов источников-измерителей статических параметров и 8 каналов измерительных источников питания. В стенде FT-17HF-768 может быть установлено до 12-ти плат канальной электроники.Стенд позволяет выполнять полное функциональное и параметрическое тестирование с частотой до 200 МГц на канал.Области применения:Выходной контроль параметров микроэлектронных компонентов и систем (в корпусе и на полупроводниковой пластине) на производстве и в лабораторных условиях.Входной контроль параметров микроэлектронных компонентов и систем на предприятиях-потребителях ЭКБНаучно-исследовательские работы, контроль граничных параметров микроэлектронных компонентов и систем, сертификационные испытания.